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第316章 芯片测试(3 / 7)

循环测试、高温存储测试、防跌落测试等等项目……”

说到这里,黄总监看着已经将芯片从黑箱子中拿出,放在测试台上,并且操作探针一一对应引脚的徐小封,继续道:“当然,按照余总的要求,其他测试项目我们今天就不进行了,主要进行参数测试。”

“第一步要做的,就是边界探测扫描。”

黄总监面容严肃:“这是十分重要的步骤,利用jtag接口扫描整个芯片的电路,保证其正常功能,如果芯片有缺陷,这一步就可以直接探测到缺陷点。”

柳叶眉打断他道:“黄总监,如果芯片电路有缺陷,那么会有什么异常?”

“如果有缺陷,那么测试仪就会显示异常,以红色醒目字体提醒,同时将会显示出电路缺陷的位置……”

“是不是这样?”

柳叶眉指了指面前的屏幕。

黄总监正沉浸在为人师表的满足感中,闻言向着面前的屏幕看去。

这一看,他顿时懵了。

眼前的屏幕上,一行醒目的红色字体出现:未检测到芯片。

这是怎么回事?

他转头看向旁边的徐小封,却见他也是一脸懵逼。

亲自上前,仔细检查了一下芯片引脚,检查了探针连接处,并没有发现什么问题,连接到很到位,顺序也没错。

不死心的黄总监重启了程序,片刻后,检测结果出来了,仍然是醒目的红色字体。

“这……”

黄总监茫然了。

余同光将目光转向了柳叶眉。

柳叶眉则将头转向了零蛋。

“零,芯片无法进行边界扫描如何处理?”

“请稍等,正在申请授权。”

“已获得授权。”零的声音是一个温和的男声:“边界扫描需要配置jtag引脚接口,超能芯片并没

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